由于氧化铝层(同时充当绝缘层)的特殊性质，即使在施加长时间的DC电压后，小电流也会继续溢出，这就是漏电流。漏电流越小，绝缘层的性能越好。

1.漏电流的时间和温度特性

在铝电解电容器加载电压的最初几分钟内，会有强漏电流流过，尤其是在长时间储存期间没有施加过压时。在连续运行过程中，漏电流降低到几乎恒定的“稳态”值。

泄漏电流的温度特性如图16所示，以85℃温度类别的电容器为例。

2.泄漏电流电压特性

在恒定温度下，漏电流和施加电压之间的关系如图17所示。

3.工作泄漏电流Ileak，op

运行漏电流是指连续运行下的稳态电流。以下公式可用于计算凯奇佳电解电容器的电感值:

以上结果是在额定电压VR和20°c下获得的。

在20℃下获得的结果必须乘以以下因素，以获得通用和长寿命电容器漏电流的温度特性。

当实际工作电压低于额定电压时，工作漏电流会大大降低:

4.泄漏电流Ileak验收测试，op

由于漏电流随时间和温度而变化，因此有必要定义测量时间和参考温度值。根据EN130300的说法，在施加额定电压5分钟后，应在20℃下测量漏电流。以下公式适用:

0.06C.V (A)或5mA小(例如:螺栓产品)

泄漏电流的验收测试可在15至35℃的温度范围内进行。然后，允许限值应乘以以下转换系数，即20℃时的值:

5.再生

根据IEC 60384-4的说法，铝电解电容必须在验收测试之前进行再生，这是一个预处理步骤，旨在确保在比较和评估不同产品时有相同的初始条件。

为此，将通过大约100 _(VR < 100伏DC)或大约1000 _(VR < 100伏DC)的串联电阻将额定电压加载到电容器中一小时。

随后，电容器在15至35℃下无电压储存12至48小时。最迟必须在48小时内测量漏电流。

如果电容无需预处理即可满足漏电流要求，这一步可以忽略不计。

6.无电压时的漏电流特性(无电压存储)

当电解电容在没有施加外部电压的情况下储存时，氧化层可能会退化，尤其是在高温下。因为此时没有漏电流将阳离子转移到阳极，所以氧化层不能再生。长期储存后第一次使用时，这将导致比正常泄漏电流更强的电流。然而，由于使用过程中氧化层的再生，漏电流将逐渐降低到正常水平。

铝电解电容器在不加电压的情况下至少可以存放两年(< 100 VR单向铅产品一年)。假设不超过贮存期，贮存后的电容器可以在额定电压下直接工作。在这种情况下，可以省略“再生”一节中描述的步骤。

在设计应用电路时，必须注意的是，在电源加载后的最初几分钟内，漏电流可能比正常情况高出数百倍。

当电容器储存2年后，电路是否允许更高的初始漏电流通常是决定性的。用电容器储存两年以上的电路应无故障运行一小时。这通常允许电容器再生，然后继续存储